|
中文名称：表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序
|
|
英文名称：Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
|
|
原文名称：
|
|
中标分类：G04
|
ICS分类：71.040.40
|
|
标准分类编号：CN
|
页数：
|
|
发布日期：2026-01-28
|
实施日期：2026-08-01
|
作废日期：
|
|
被替代标准：
|
代替标准序号：
|
|
引用标准：
|
|
采用标准化：ISO 21222-2020,IDT
|
|
补充修订：
|
|
标引依据：国家标准公告2026年第4号
|
|
标准摘要：
|
|
|
|
|
|
|
|
|