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中文名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
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英文名称：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
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原文名称：
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中标分类：L40
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ICS分类：31.080.01
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标准分类编号：CN
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页数：
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发布日期：2025-12-03
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实施日期：2025-12-03
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作废日期：
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被替代标准：
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代替标准序号：
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引用标准：
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采用标准化：IEC TR 63133-2017,IDT
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补充修订：
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标引依据：国家标准公告2025年第35号
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标准摘要：
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