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中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
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英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
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原文名称：
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中标分类：L40
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ICS分类：31.080.01
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标准分类编号：CN
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页数：
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发布日期：2025-12-02
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实施日期：2026-07-01
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作废日期：
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被替代标准：
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代替标准序号：
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引用标准：
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采用标准化：IEC 60749-44 -2016,IDT
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补充修订：
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标引依据：国家标准公告2025年第33号
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标准摘要：
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