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中文名称：集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 2: Measurement of radiated emissions—TEM cell and wideband TEM cell method
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原文名称：
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中标分类：L56
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ICS分类：31.200
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标准分类编号：CN
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页数：
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发布日期：2025-12-31
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实施日期：2026-07-01
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作废日期：
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被替代标准：
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代替标准序号：
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引用标准：
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采用标准化：IEC 61967-2-2005,IDT
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补充修订：
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标引依据：国家标准公告2025年第38号
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标准摘要：
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