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中文名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
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英文名称：Semiconductor integrated circuit. Measuring methods for flash memory
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原文名称：
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中标分类：L56
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ICS分类：31.200
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标准分类编号：CN
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页数：18
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发布日期：2018-06-07
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实施日期：2019-01-01
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作废日期：
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被替代标准：
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代替标准序号：
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引用标准：GB/T 17574-1998
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采用标准化：
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补充修订：
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标引依据：国家标准公告2018年第9号
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标准摘要：本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
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